前言:

綠能發(fā)電越來越受到各國的重視，太陽能產(chǎn)業(yè)則為這些新能源產(chǎn)業(yè)中的發(fā)展重點之一。隨著太陽能板的技術(shù)趨于成熟，面板系統(tǒng)電壓的設(shè)計架構(gòu)皆已高達1500 Vdc,因此各國對于太陽能板的安全與效能測試越來越重視，國際間太陽能相關(guān)安全法規(guī)也不斷的提出修正與定義。 太陽能面板〝效能衰減〞是目前太陽能面板廠商面臨的重要課題之一，為了避免產(chǎn)品效能衰減，PID ( Potential Induced Degradation) 電勢誘發(fā)衰減測試相關(guān)認證儼然成為面板廠商設(shè)計與出廠的重要規(guī)范。許多歐洲國家目前已要求生產(chǎn)廠家必須提供相關(guān)PID報告或貼上〝anti-PID〞的卷標證明產(chǎn)品通過認證，相關(guān)測試認證的細節(jié)都規(guī)范于IEC/TS 62804-1安全法規(guī)中。 EEC華儀電子提供針對太陽能產(chǎn)業(yè)的專用安規(guī)測試相關(guān)產(chǎn)品，以新穎技術(shù)協(xié)助增強整體產(chǎn)能和測試效率，量測功能包含直流耐壓 (DCW)、直流接地阻抗 (DC GB)、絕緣組抗 (IR)、以及電勢誘發(fā)衰減測試 (PID)，符合太陽能國際法規(guī)IEC 61730, IEC 61215, IEC 62804 和 UL1703 的所有測試規(guī)范。